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簡(jiǎn)述測(cè)厚儀的測(cè)量原理
點(diǎn)擊次數(shù)：1484 更新時(shí)間：2021-08-09
簡(jiǎn)述測(cè)厚儀的測(cè)量原理
測(cè)厚儀是一種用來測(cè)量物體厚度的儀器。它是使用微波和激光技術(shù)制成的。分為激光測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀等。測(cè)厚儀的檢測(cè)方法主要有：磁性測(cè)厚、輻射測(cè)厚、電解測(cè)厚、渦流測(cè)厚、超聲波測(cè)厚等。
??其測(cè)量原理：
??設(shè)備測(cè)量安裝支架到物體表面的距離，然后根據(jù)支架固定距離計(jì)算出物體的厚度。
??激光束在被測(cè)物體表面形成一個(gè)小光斑，成像物鏡將光斑成像在光敏接收器的感光面上，并產(chǎn)生檢測(cè)光斑在感光面上位置的電信號(hào)。當(dāng)被測(cè)物體移動(dòng)時(shí)，其表面光斑相對(duì)于成像物鏡的位置會(huì)發(fā)生變化，光敏器件上的像點(diǎn)位置也會(huì)隨之發(fā)生變化，可得到被測(cè)物體的實(shí)際移動(dòng)距離。計(jì)算。測(cè)厚儀的檢測(cè)方法主要有：磁性測(cè)厚、輻射測(cè)厚、電解測(cè)厚、渦流測(cè)厚、超聲波測(cè)厚等。
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